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VLSI Test Principles and Architectures - Design for Testability

Catégorie : Informatique / Hardware et matériels / Electronique pour l'informatique

VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

Prix public : 55,68 €

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Prix exceptionnel Eyrolles :
52,9€


Auteur(s) :
L. wang
C. wu
X. wen

Editeur : Morgan Kaufmann
Date de parution : 11/09/2006
ISBN : 0-12-370597-5
EAN : 9780123705976
Voir la fiche complète de ce livre

VLSI Test Principles and Architectures - Design for Testability

Synopsis

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

Features & Benefits

  • Most up-to-date coverage of design for testability.
  • Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books.
  • Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures.
  • Lecture slides for Chapters 1-5 and exercise solutions for Chapters 1, 2, 3 & 5 are available now.
  • Lecture slides and exercise solutions for the remaining chapters will be available by September 15, 2006.

Commander ce livre au prix de 55,68 € 52,9 €

Classé sous : Test, Design, Vlsi, Chapters, Dft



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